FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3?大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。

 

該儀器設計符合單晶硅物理測試方法 并參考美國標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高 度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率  導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等

規(guī)格型號	FT-341	FT-342	FT-343	FT-345	FT-346	FT-347
1.方塊電阻范圍	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×103Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×103Ω/□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×103Ω/□
2.電阻率范圍	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×104-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×104-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm
3.測試電流范圍	0.1μA,μA,0μA，100?A，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100?A，1mA，10mA，100 mA	0.1μA,μA，10μA，100?A，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100?A，1mA，10mA，100 mA	0.1μA，1μA，10μA，100?A，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100?A，1mA，10mA，100 mA
4.電流精度	±0.1%讀數(shù)	±0.2%讀數(shù)	±0.2%讀數(shù)	±0.3%讀數(shù)	±0.3%讀數(shù)	±0.3%讀數(shù)
5.電阻精度	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.顯示讀數(shù)	大屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率
7.測試方式	雙電測量
8.工作電源	輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功耗：<30W
9.整機不確定性誤差	≤3%（標準樣片結果）
10.選購功能	選購軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺
11.測試探頭	探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀器公司，一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|的企業(yè). 專業(yè)與精致并重； 與智慧之原