FT-330系列普通四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀

FT-330 Series common four probe resistance ratio test instrument

• 描述Description：

采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，優(yōu)于同類儀器精度.特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量， 加準(zhǔn)確.提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.

Using the Vanderbilt measuring principle can improve the influence and error of external factors on measurement results,.

二.滿足標(biāo)準(zhǔn)standard：

硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及 設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?

silicon resistivity measurements of international standards (ASTM F84) and national standard design and manufacture of the equipment is designed in accordance with GB/T 1551-2009 "Method of determination of silicon single crystal resistivity” GB/  four probe method".

三.適用范圍Applicable scope：

適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的 工具；液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便；選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報(bào)表

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廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

It is widely used in:

Covering membrane;-radiation conductive film (shielding)-film material square resistance testing.

(.)

四.型號(hào)及技術(shù)參數(shù)Models and technical parameters

規(guī)格型model	FT-331	FT-332	FT-333	FT-334	FT-335	FT-336
1.方塊電阻范圍Sheet resistance	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω/□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
2.電阻率范圍Resistivity	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×105Ω-cm
測(cè)試電流范圍 Test current	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	10μA，100µA，1mA，10mA， 100mA	0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度 Current accura	±0.1%	±0.2%	±0.2%	±0.3%	±0.3%	±0.3%
5.電阻精度Resistance	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.顯示讀數(shù)display	液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率LCD:
7.測(cè)試方式test mode	普通單電測(cè)量general single electrical measurement
8.工作電源power	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W
9.誤差errors	整機(jī)不確定性Machine uncertain errors≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果 Standard Sample results）
10.選購(gòu)功能choose to buy	選購(gòu)軟件； 選購(gòu)2.方形探頭； 選購(gòu)3.直線形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻 ;;;.
11.測(cè)試探頭Test probe	探針間距選購(gòu)：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes. Select probe material:.

配套方案：解決各材料狀態(tài) --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀電阻、電阻率、電導(dǎo)率測(cè)量

ROOKO瑞柯品牌-------專注于新材料測(cè)量與分析儀器解決方案  

----解決材料：導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.

----我們一直在做：研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、租賃、實(shí)驗(yàn)室樣品分析及后延擴(kuò)展服務(wù)

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